高低溫分析晶圓測(cè)試探針臺(tái)
                
                
                    
                        價(jià)  格:詢價(jià)
                    
                        產(chǎn)  地:更新時(shí)間:2021-05-11 14:26
                    
                    
                        品  牌:其他型  號(hào):LS-WPS150/200/300-TEC
                    
                        狀  態(tài):正常點(diǎn)擊量:2404
                    
                        
                        
                            
                                
                                    400-006-7520 
                                
                            
                            
                                
                                    聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
                                
                             
                         
                      
                 
                 
                    
                    
                        聯(lián) 系 人:
                            上海非利加實(shí)業(yè)有限公司 
                        
                    
                        電   話:
                            400-006-7520 
                        
                    
                        傳   真:
                            400-006-7520 
                            
                        
                    
                    
                        配送方式:
                            上海自提或三方快遞 
                        
                    
                        聯(lián)系我時(shí)請(qǐng)說(shuō)在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
                 
                
             
            
            
                
                
                
                
                
                
                
                
                    
                        
                
                    
                        產(chǎn)品特性1. 非真空環(huán)境下的低溫測(cè)試,可達(dá)-100℃     2. 大手柄驅(qū)動(dòng),操作舒適,無(wú)回程差設(shè)計(jì)3. 兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動(dòng)      4. 0.2微米以上芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測(cè)試5. 高等院校/研究所/公司實(shí)驗(yàn)室使用         6. VCSEL/LD/LED/PD的光功率/光譜測(cè)試7. 可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試                       8. VCSEL/LD/LED/PD的IV/CV特性測(cè)試9. 精密絲桿傳動(dòng)結(jié)構(gòu),線性移動(dòng)          10. 器件的高頻特性測(cè)試(至300GHz頻率)