***、掃描速度調節(jié)

       鑄件檢測的掃描速度***般按聲程調節(jié)。

二、檢測靈敏度調節(jié)

　　鑄件檢測靈敏度應根據對鑄件的質量要求而確定，***般上，對內外層可采用不同的靈敏度。檢測靈敏度***般用圖6-43所示的帶有平底孔的試塊或工件底面來調節(jié)。用試塊調節(jié)靈敏度時，試塊的材質和表面狀態(tài)（包括表面形狀、粗糙度）應與被探工件相同，否則，應測定傳輸修正值并予以修正。用工件底面調節(jié)靈敏度時，可以消除材質差異和表面狀態(tài)差異的影響，但要求工件底面應與檢測面平行。

　　當采用直探頭檢測時，在***大聲程處，以φ3、φ4、φ6mm三種平底孔當量為靈敏度，具體由供需雙方協(xié)商確定。若按GB/T 7233-2009標準標準要求，通常采用2～2.5MHz的探頭，以***大聲程處的φ6mm平底孔作為檢測靈敏度。當采用雙晶直探頭檢測時，以***大聲程處的φ3mm平底孔當量為靈敏度。

二：缺陷判定與記錄

（1）缺陷判定

　　缺陷判定方法基本與鍛件相同，存在下列情況之***時，則可判為缺陷：

　?、?存在缺陷回波，且回波波幅超過某***高度(如超過距離－波幅曲線)時；

　?、?底面回波波幅降低某***值時；

　?、?當采用多次回波法檢測，底波次數減少時。

　　（2）缺陷記錄

　　標準不同，對缺陷記錄的要求不同，按GB/T 7233-2009標準標準要求，除非另有規(guī)定，應記錄達到或超出表6—6給出數值的所有底波衰減和缺陷回波高度。

　　當使用斜探頭時，不考慮回波的幅度，應記錄所有具有游動特征或在壁厚方向上能測量尺寸的信號。

平底孔直徑換算成橫孔直徑的公式：

式中： DQ——橫孔直徑，單位為毫米（mm)

          DFBH——平底孔直徑，單位為毫米（mm)

          λ——波長，單位為毫米（mm)

          X——聲程，單位為毫米（mm)≧

注：本公式僅適于DQ≧2λ?X≧5N(N為近場長度)?單晶探頭。

       ***般情況下，鑄件中的缺陷往往要進行挖補，為確定挖補的范圍和深度，對鑄件中缺陷定位要準確。

　　鑄件檢測主要采用縱波直探頭，缺陷在工件中的位置由探頭在檢測面上的位置及缺陷在示波屏上的水平刻度值來確定。

　　7．缺陷大小的測定

　　鑄件檢測時?？紤]到缺陷的形態(tài)和取向，超聲檢測應盡可能從兩面進行檢測。

       ***般鑄件中允許存在的缺陷較大，常用測長法確定缺陷的面積。鑄件中的缺陷多為體積形的，有時需要從多個方向進行測定，以確定缺陷的大小。

       缺陷大小的測定方法基本與鍛件相同。

（文章來源于互聯網）